鑄鐵平臺鑄鐵平板光潔度的實物標準器是標準單刻線樣板和標準多刻線樣板,二者都由1到14級的標準樣板組成.由于標準樣板的檢定精度要求較高(相對誤差在2-3%),目前尚沒有合適的儀器可與鑒定,只能用比對方法檢定.各種光潔度工藝樣板鑄鐵方箱可用雙管顯微鏡(檢定9級以下),干涉顯微鏡(檢定10級以上)和電動輪廓儀(檢定3-12級)進行檢定.

　　用較簡樸的方法即可使鑄鐵檢驗平板上砂,且上砂快,嵌砂量足.鑄鐵檢驗平臺經(jīng)由使用后仍十分輕易上同類型砂,經(jīng)由打磨后,光潔度明顯進步.光切顯微鏡以光切法丈量零件加工表面的微觀不平度.      判定表面粗拙度0.2,對于表面劃痕,刻線或某些缺陷的深度也可用來進行丈量.鑄鐵平臺廠家光切法特點是在不破壞表面的關(guān)況下進行的.是一種間接丈量方法.即要經(jīng)由計算后才能確定紋痕的不平度.當然計算全部由電腦完成.光切顯微鏡是一種專用丈量粗拙度的設(shè)備,既能使鑄鐵平板質(zhì)量高,精度正確,鑄鐵平板又使得鑄鐵平臺的表面光潔度高.以達到客戶十分滿足的效果

　　鑄鐵刮研平臺在機械工廠往往作為平面基準，鑄鐵刮研平板平面度的好壞直接影響產(chǎn)品質(zhì)量檢測的可靠程度。因為，工廠對檢驗平板的要求也較高，檢驗平臺廠家為確保其準確精度級別，平板的修理也很頻繁。

　　1.“三塊互研”法，即即用相同規(guī)格的三塊鑄鐵平板，輪番對研進行鏟刮，直至三塊平板拖研均能得到理想的接觸斑點，實踐表明，“三塊互研”法的確存在不少弊病，并不是檢驗平臺科學(xué)的修理方法。其一，“互研”法至少要有不少于三塊同規(guī)格的平板才能進行互研鏟刮，而工廠往往并不具備此條件，即便工廠有眾多的同規(guī)格的平板，但未必剛好有三塊鑄鐵平板需要同時進行修理，就不得不將合格的平板充當不合格的平板進行修理 。其二，劃線平臺因為“三塊互研”法是以三塊平板本身作為基準進行互研的，實際上三塊待修鑄鐵刮研平板均無理想平面存在，因此在研磨鏟刮過程中，往往無平面基準而不能達到要求，甚至反而破壞了原先的鑄鐵平板表面精度。其三，減震墊鐵“三塊互研 即便能達到滿意接觸斑點，但也不能排除三塊刮研平板呈同一方向扭曲，即一條對角線中心為凸，另一條對角線中心為凹。再者，由于是人工翻轉(zhuǎn)，體力勞動強度大，工效低，稍不注意還可能造成人身傷殘事故鑄鐵件定做。

　　例如：現(xiàn)有同規(guī)格的A、B、C三塊鑄鐵刮研平板，A為凸狀，B為凹狀，C為平形狀，先后對A與B，B與C，C與A進行互研鏟刮，結(jié)果如下：當A、B互研時，剛好鑄鐵平板形狀一凸一凹，兩工作面幾乎全部接觸而產(chǎn)生斑點。加以鏟刮，則A、B鑄鐵平臺兩平板的平面粗度并無改善，僅僅減小了鑄鐵平板的厚度，降低了平板的使用壽命，的確是有弊而無利。對B、C兩平板的研磨，僅僅在兩平板的四個角點產(chǎn)生接觸斑點而其余部位均無接觸斑點產(chǎn)生，鏟刮結(jié)果使B平板的四個角點被刮削使鑄鐵平板的平面度有所改善。但平面度較好的C平板，經(jīng)過四個角點的鏟刮，鑄鐵方箱沒有提高平板表面精度，反而破壞了原有的表面精度，使C平板較原先為凸狀，這是有害作業(yè)。而A、C兩平板的互研，僅在兩平板中心部位接觸產(chǎn)生斑點，面其余部位均無接觸斑點。通過鏟刮，使A平板的中心被刮削而提高了平板平面度，平板的凸狀較前有所好轉(zhuǎn)，而C平板則中心變凹，使平板形狀   加復(fù)雜鑄鐵檢驗平臺。

　　其結(jié)果將使A、B兩平板平面度有所改善而使C平板的基本形狀變壞。這樣輪番互研鏟刮，不僅費時、費力而收效卻甚微，因為“三塊互研”法并不是科學(xué)的理想的鑄鐵刮研平板的修理方法　2.修理鑄鐵刮研平板的方法一是將被修平板與平面度較高的基準平板進行對研鏟刮，鑄鐵平臺廠家被修鑄鐵刮研平板與基準平板進行拖研鏟刮，直至被修鑄鐵刮研平板的研磨斑點符合要求為止，該方法是   直觀，簡便，也是   有較的方法，但對基準平板的要求有較好的平面度，且規(guī)格   大于被修鑄鐵刮研平板，而基準平板長期使用后也將破原有的平度精度，修復(fù)基準平板就比較困難了鑄鐵平板

　　3.在長期的鑄鐵平板修理實踐中，在無基準平板的條件下我們采用了鑄鐵平尺代替基準平板的修理方法，收到了滿意的效果。因為只要有基準存在，修理工作就有法可依，而且用鑄鐵平尺修理平板同樣直觀，簡便，   可靠，是修理鑄鐵平板的可行方法檢驗平臺廠家。